El objetivo fundamental del trabajo que se presenta consiste en establecer las caracter�sticas de diversos tipos de rejillas de difracci�n, a trav�s del estudio de el espectro de difracci�n que generan y de los patrones de Ronchi caracter�sticos de cada uno de ellas. El modelado te�rico de las rejillas se lleva acabo aplicando dos enfoques comparativos: uno que considera componentes espaciales para generar el perfil de las rejillas y otro que genera el perfil con componentes frecuenciales. Los resultados ...
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El objetivo fundamental del trabajo que se presenta consiste en establecer las caracter�sticas de diversos tipos de rejillas de difracci�n, a trav�s del estudio de el espectro de difracci�n que generan y de los patrones de Ronchi caracter�sticos de cada uno de ellas. El modelado te�rico de las rejillas se lleva acabo aplicando dos enfoques comparativos: uno que considera componentes espaciales para generar el perfil de las rejillas y otro que genera el perfil con componentes frecuenciales. Los resultados obtenidos a trav�s del modelado te�rico se llevaran a la pr�ctica mediante la construcci�n de las rejillas simuladas, impresas sobre acetato corriente desde una impresora l�ser. La caracterizaci�n de las rejillas mediante el modelado te�rico de las rejillas y de los patrones de Ronchi junto con la validaci�n experimental es el objetivo m�s importante de este trabajo, quedando como objetivo secundario pero no menos importante algunas aplicaciones de las rejillas construidas.
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