Poprawa wla ciwo ci optycznych materialu, takich jak reflektancja, wi e si ze zlo onym poszukiwaniem optymalnych parametr???w eksperymentalnych w procesie ich otrzymywania. Wykorzystanie oprogramowania obliczeniowego do symulacji proces???w wzrostu cienkich warstw stanowi istotn korzy c ze wzgl du na brak zale no ci od rzeczywistego systemu, jak r???wnie mo liwo c zbadania szerszego zakresu wyst puj cych wielko ci fizycznych. Ponadto, istnieje potrzeba w przemy le motoryzacyjnym, Varroc Lighting Systems(c) otrzymal ...
Read More
Poprawa wla ciwo ci optycznych materialu, takich jak reflektancja, wi e si ze zlo onym poszukiwaniem optymalnych parametr???w eksperymentalnych w procesie ich otrzymywania. Wykorzystanie oprogramowania obliczeniowego do symulacji proces???w wzrostu cienkich warstw stanowi istotn korzy c ze wzgl du na brak zale no ci od rzeczywistego systemu, jak r???wnie mo liwo c zbadania szerszego zakresu wyst puj cych wielko ci fizycznych. Ponadto, istnieje potrzeba w przemy le motoryzacyjnym, Varroc Lighting Systems(c) otrzymal zadanie poprawy wsp???lczynnika odbicia reflektor???w aluminiowych, wi c przeprowadzili my rozw???j, przy u yciu oprogramowania NASCAM(R), kt???re wykorzystuje metod kinetyczn Monte Carlo do opracowania modelu ukladu fizycznego, kt???ry ma byc badany w skali nanometrycznej, pozwoli nam to na analiz wplywu r??? nych wielko ci, kt???re mog wplywac na wsp???lczynnik odbicia materialu.
Read Less
Add this copy of Teoretyczna ocena wsp鏊czynnika odbicia w cienkich to cart. $50.92, new condition, Sold by Ingram Customer Returns Center rated 5.0 out of 5 stars, ships from NV, USA, published 2021 by Wydawnictwo Nasza Wiedza.
