Dieses Fachbuch behandelt moderne Verfahren zur Charakterisierung von D???nnschicht-Solarzellen. Diese Verfahren sind f???r die Photovoltaik-Forschung und -Entwicklung relevant, sowohl im wissenschaftlichen Bereich als auch bei Unternehmen. Nach einer Einf???hrung in die D???nnschicht-Photovoltaik erl???utern Experten Methoden f???r die Ger???te- und Materialcharakterisierung, wie die Elektrolumineszenz-Analyse, die Kapazit???tsspektroskopie sowie verschiedene mikroskopische Verfahren. Am Ende des Buches werden ...
Read More
Dieses Fachbuch behandelt moderne Verfahren zur Charakterisierung von D???nnschicht-Solarzellen. Diese Verfahren sind f???r die Photovoltaik-Forschung und -Entwicklung relevant, sowohl im wissenschaftlichen Bereich als auch bei Unternehmen. Nach einer Einf???hrung in die D???nnschicht-Photovoltaik erl???utern Experten Methoden f???r die Ger???te- und Materialcharakterisierung, wie die Elektrolumineszenz-Analyse, die Kapazit???tsspektroskopie sowie verschiedene mikroskopische Verfahren. Am Ende des Buches werden Simulationstechniken vorgestellt, die f???r ab-initio-Berechnungen entsprechender Halbleiter und f???r Ger???tesimulationen in bis zu 3 Dimensionen verwendet werden. Diese neue Auflage baut auf einem bew???hrten Konzept auf und besch???ftigt sich auch mit transienten optoelektronischen Methoden und der Fotostrom-Spektroskopie, der Charakterisierung des D???nnschichtwachstums in Echtzeit und vor Ort sowie mit Simulationen auf Basis der Molekulardynamik.
Read Less
Add this copy of Advanced Characterization Techniques for Thin Film to cart. $280.48, like new condition, Sold by GreatBookPrices rated 4.0 out of 5 stars, ships from Columbia, MD, UNITED STATES, published 2016 by Blackwell Verlag GmbH.
Choose your shipping method in Checkout. Costs may vary based on destination.
Seller's Description:
Fine. Intended for college/higher education audience. In Stock. 100% Money Back Guarantee. Brand New, Perfect Condition, allow 4-14 business days for standard shipping. To Alaska, Hawaii, U.S. protectorate, P.O. box, and APO/FPO addresses allow 4-28 business days for Standard shipping. No expedited shipping. All orders placed with expedited shipping will be cancelled. Over 3, 000, 000 happy customers.
Add this copy of Advanced Characterization Techniques for Thin Film to cart. $283.31, new condition, Sold by GreatBookPrices rated 4.0 out of 5 stars, ships from Columbia, MD, UNITED STATES, published 2016 by Blackwell Verlag GmbH.
Choose your shipping method in Checkout. Costs may vary based on destination.
Seller's Description:
New. Intended for college/higher education audience. In Stock. 100% Money Back Guarantee. Brand New, Perfect Condition, allow 4-14 business days for standard shipping. To Alaska, Hawaii, U.S. protectorate, P.O. box, and APO/FPO addresses allow 4-28 business days for Standard shipping. No expedited shipping. All orders placed with expedited shipping will be cancelled. Over 3, 000, 000 happy customers.
Add this copy of Advanced Characterization Techniques for Thin Film to cart. $283.32, new condition, Sold by Booksplease rated 4.0 out of 5 stars, ships from Southport, MERSEYSIDE, UNITED KINGDOM, published 2016 by Blackwell Verlag GmbH.